SolidSpec-3700/3700DUV спектрофотометр

Специализированный спектрофотометр с вертикальным расположением светового пучка, двухлучевой оптикой и двойным монохроматором специально создан для исследования оптических и спектральных характеристик крупногабаритных образцов в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до ближней ИК области.

Спектрофотометр снащен тремя детекторами: ФЭУ и полупроводниковыми детекторами на основе InGaAs и PbS, которые обеспечивают высокую чувствительность на границе видимого диапазона и в ближней ИК области. Низкий  уровень шума делает данный спектрофотометр незаменимым при работе с малопрозрачными образцами. Эта особенность неоценима также и при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.

В модели SolidSpec -3700 DUV используется продувка оптического блока и отделения для образцов чистым азотом, с целью удаления кислорода, что позволяет расширить спектральный диапазон в область вакуумного ультрафиолета до 165 нм.

Большое отделение для образцов (900×700×350 мм) позволяет удобно разместить в горизонтальной плоскости образцы с максимальными размерами 700×560×40 мм. Измерение таких крупных образцов стало максимально удобным благодаря вертикальному расположению оптического пучка. Дополнительная автоматическая система прецизионного перемещения образца (X – Y позиционер) позволяет проводить измерения в предварительно заданных точках, возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310×310 мм2.

Конструкция кюветного отделения позволяет устанавливать различные дополнительные приставки:

• блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб);
• приставка для измерения зеркального отражения ;
• блок для очистки азота;
• приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах: 5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰.

Удобное программное обеспечение UVProbe (имеется русифицированная версия) дает возможность работать в следующих режимах:

• спектральный – регистрация поглощения, пропускания или отражения, сканирование по длине волны с возможностью последующей обработки спектра (определение положения максимумов и минимумов, арифметические операции, расчет площади, сглаживание, обратные величины, логарифмирование, производная с 1 до 4 порядка);
• фотометрический (количественный) – измерение на одной или нескольких (до 3) выбранных длинах волн, построение градуировочного графика методом К-фактора, одноточечным или многоточечным;
• кинетический – регистрация изменения измеряемой величины во времени;
• генератор отчетов - свободное или по шаблону размещение материала (спектры, таблицы, комментарии и др.).

Применение:

• Исследование оптических и спектральных характеристик крупногабаритных образцов в широкой спектральной области;
• Исследования изменений свойств покрытий;
• Анализ поверхности полупроводников;
• Высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне.

Характеристики: