Специализированный спектрофотометр с вертикальным расположением светового пучка, двухлучевой оптикой и двойным монохроматором специально создан для исследования оптических и спектральных характеристик крупногабаритных образцов в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до ближней ИК области.
Спектрофотометр снащен тремя детекторами: ФЭУ и полупроводниковыми детекторами на основе InGaAs и PbS, которые обеспечивают высокую чувствительность на границе видимого диапазона и в ближней ИК области. Низкий уровень шума делает данный спектрофотометр незаменимым при работе с малопрозрачными образцами. Эта особенность неоценима также и при исследовании плохо отражающих образцов, например, оптических волоконных материалов.
В модели SolidSpec -3700 DUV используется продувка оптического блока и отделения для образцов чистым азотом, с целью удаления кислорода, что позволяет расширить спектральный диапазон в область вакуумного ультрафиолета до 165 нм.
Большое отделение для образцов (900×700×350 мм) позволяет удобно разместить в горизонтальной плоскости образцы с максимальными размерами 700×560×40 мм. Измерение таких крупных образцов стало максимально удобным благодаря вертикальному расположению оптического пучка. Дополнительная автоматическая система прецизионного перемещения образца (X – Y позиционер) позволяет проводить измерения в предварительно заданных точках, возможно измерение по всей поверхности образца площадью 310×310 мм2.
Конструкция кюветного отделения позволяет устанавливать различные дополнительные приставки:
- блок детектирования DDU-DUV (для анализа твердых и жидких проб);
- приставка для измерения зеркального отражения ;
- блок для очистки азота;
- приставка абсолютного зеркального отражения с возможностью измерения при разных углах: 5⁰, 12⁰, 30⁰, 45⁰.
Удобное программное обеспечение UVProbe (имеется русифицированная версия) дает возможность работать в следующих режимах:
- спектральный – регистрация поглощения, пропускания или отражения, сканирование по длине волны с возможностью последующей обработки спектра (определение положения максимумов и минимумов, арифметические операции, расчет площади, сглаживание, обратные величины, логарифмирование, производная с 1 до 4 порядка);
- фотометрический (количественный) – измерение на одной или нескольких (до 3) выбранных длинах волн, построение градуировочного графика методом К-фактора, одноточечным или многоточечным;
- кинетический – регистрация изменения измеряемой величины во времени;
- генератор отчетов - свободное или по шаблону размещение материала (спектры, таблицы, комментарии и др.).
Применение:
- Исследование оптических и спектральных характеристик крупногабаритных образцов в широкой спектральной области;
- Исследования изменений свойств покрытий;
- Анализ поверхности полупроводников;
- Высокочувствительное измерение антиотражающих покрытий в ближнем ИК-диапазоне.
Характеристики:
Оптическая схема |
Двухлучевая |
---|
Монохроматор |
Двойной |
---|
Источник излучения |
50-Вт галогеновая лампа и дейтериевая лампа. Автоматическая регулировка положения встроенного источника света |
---|
Детекторы |
ФЭУ, InGaAs, PbS |
---|
Спектральный диапазон |
SolidSpec 3700: 240 - 2600 нм или 190 - 3300 нм (при использовании DDU) SolidSpec 3700 DUV: 175-2600 нм или 165 - 3300 нм (при использовании DDU (DUV) |
---|
Спектральная ширина щели |
8 ступенчатая: от 0.1 до 8 нм в УФ/видимой области 10 ступенчатая: от 0.2 до 32 нм в ближней ИК области |
---|
Точность установки длины волны |
±0.2 нм в УФ/видимой области
±0.8 нм в ближней ИК области
|
---|
Воспроизводимость установки длин волн |
±0.08 нм в УФ/видимой области
±0.32 нм в ближней ИК области
|
---|
Максимальная скорость сканирования |
4500 нм/мин (УФ-видимый диапазон)
9000 нм/мин (ближний ИК) для ФЭУ и InGaAs
4000 нм/мин (ближний ИК) для PbS
|
---|
Уровень рассеянного излучения* |
Менее 0.00008% (при 220 нм)
Менее 0.00005% (при 340 нм)
Мнеее 0.0005% (при 1420 нм)
Менее 0.005% (при 2365 нм)
|
---|
Фотометрический диапазон |
От -6 до +6 Abs |
---|
Фотометрическая точность |
±0.002 Abs (при 0.5 Abs)
±0.003 Abs (при 1 Abs)
|
---|
Фотометрическая воспроизводимость |
±0.001 Abs (при 0-0.5 Abs)
±0.002 Abs (при 0.5-1.0 Abs)
|
---|
Дрейф нулевой линии |
SolidSpec-3700: менее 0.0002 Аbs/час (500 нм, через 2 часа после включения прибора)
SolidSpec-3700DUV: Менее 0.0003 Аbs/час (500 нм, через 2 часа после включения прибора)
|
---|
Стабильность нулевой линии |
±0,003 Abs (от 240 до 350 нм),
±0,002 Abs (от 350 до 1600 нм)
±0,004 Abs (от 1600 до 2600 нм)
|
---|
Уровень шума |
Менее 0.0002 Abs (500 нм, RMS, щель 8 нм)
Мнеее 0.00005 Abs (1500 нм, RMS, щель 8 нм)
DDU/DDU-DUV:
Менее 0.00005 Abs (500 нм, RMS, щель 2 нм)
Менее 0.00003 Abs (1500 нм, RMS, щель 2 нм)
|
---|
Размеры отделения для образцов (Ш×Г×В) |
900×700×350 мм |
---|
Габариты (Ш×Г×В) |
1000×800×1200 мм |
---|
Вес |
170 кг
|
---|